可靠性測試里面的MTBF：即平均故障間隔時間，英文全稱是“Mean Time Between Failure”，指新的產品在規定的工作環境條件下開始工作到出現**個故障的時間的平均值。MTBF越長表示可靠性越高，保持正確工作能力越強，單位為“小時”。通常也指相鄰兩次故障之間的平均工作時間，也稱為平均故障間隔。它僅適用于可維修產品（不可維修產品我們用MTTF定義）。當產品的壽命服從指數分布時，失效率的倒數表示兩個失效之間的時間間隔。λ=1/MTBF
例子：某產品SSD MTBF值標稱為150萬小時，保修5年；150萬小時約為171年，并不是說該產品SSD每塊盤均能工作171年不出故障。由MTBF=1/λ可知λ=1/MTBF=1/171年，即該固態硬盤的平均年故障率約為0.6%，一年內，平均1000塊固態硬盤有6塊會出故障。
，FIT/MTBF值是產品設計時要考慮的重要參數，測試工程師經常使用各種不同的方法與標準來估計產品的MTBF值，其目的就是為了找出產品設計中的薄弱環節。
浴盆曲線：又稱失效率曲線，指產品從投入到報廢為止的整個生命周期內，其可靠性的變化呈現一定的規律，大致分為早期失效期、隨機失效期、損耗失效期。我們通常描述的FIT實際是指的是隨機失效期（明確失效周期可以指導我們正確定義Ea值，進而減少實際誤差）
MTBF有三種測試方法，分別是：預測法、實驗法、實測法三種方法。
MTBF預測法：
1、標準局限性：目前*通用的性標準是MIL-HDBK-217、GJB/Z299B和Bellcore，分別用于**產品和民用產品。其中，MIL-HDBK-217是由美國國防部可靠性中心及Rome實驗室提出并成為行業標準，專門用于**產品MTBF值計算，GJB/Z299B是我國軍用標準；而Bellcore是由AT&TBell實驗室提出并成為商用電子產品MTBF值計算的行業標準。MIL-HDBK-217據說95年發布一版后就不再維護更新了，所以標準本身也有局限性
2、預測法局限性：預測法主要采用應力分析法和元件計數法分析產品的MTBF。主要考慮的是產品中每個器件的失效率；影響因素包括：πE 環境因素Environment factor) 、πQ 品質因素：(Quality factor)、πA 應用因素：(Application factor)、πC 復雜性因素：(Quality factor)、πL 累計因素：(Learning factor)、πS 電應力因素：(Electrical Stress factor)、πT 溫度因素：(Temperature factor）等。受各種因素影響，以及計算參數的選擇上受計算人員對系數的掌握和了解程度影響很大，因此和實際值相比會有很大的差異。不推薦。
MTBF實測法：
顧名思義，就是直接測試，*終統計結果，比如MTBF比較小的產品可以按照這種方法直接驗證，假如產品手冊宣稱150萬小時，這種方法的確不太可行。
MTBF 實驗法：
這種方法是我個人比較推薦的一種方法，經過合理的測試方法，參考準確的測試數據評估出來的MTBF也是比較準確的，實驗法大致也分：定時截尾試驗：指實驗到規定的時間終止。定數截尾試驗：指實驗到出現規定的故障數或失效數時而終止。因為溫度是我們產品唯一的加速因素，所以這里我引入了加速因子（AF：Accelerate Factor），加速因子AF即為產品在正常使用條件下的壽命和高測試應力條件下的壽命的比值。一般采用Arrhenius Model（阿氏模型），AF=e{ Ea/Kb*[1/Tn-1/Ta]} （畫圈圈，在我們Reliability Testing中會經常用到這個AF）。
Ea：活化能，單位eV，活化能高，表示對溫度變化影響比較顯著。當試驗的溫度與使用溫度差距范圍不大時，Ea可設為常數。一般電子產品在早期失效期的Ea為0.2~0.6eV，隨機失效期的Ea趨近于1.0eV；損耗失效期的Ea大于1.0eV。后面例子我用到Ea值=1.1
Kb：Boltzmann Constant波茲曼常數，(0.00008623eV/°k)
Tn：正常操作條件**溫度(°k)
Ta：加速壽命試驗條件**溫度(°k)
E：2.718
Confidence Level：信心度 ，一般為60%，α=0.4；90%，α=0.1
UCL ：Unit Confidence Level，信心系數。UCL=X^2(α,2r+2)，使用卡方公式作為對MTBF準確性的要求，因此冒險率越小，X^2就越大，計算的MTBF越小，可信度越高。同時失效數r越大，不良率就高了，X^2自然也變大，在同樣的時間下MTBF就會變小。該值可以直接參考JESD47，附表為Confidence Level =60%時的UCL
MTBF=Total Test Time*AF/UCL
Total Test Time=(Sample Size) *(Test Days)*(Power On Hours/Day)
例：100塊樣品，信心度為0.6，用戶使用溫度為30度，測試溫度為55度。假設在測試60天后，有1塊盤失效，請計算MTBF值。
（我自己做了一個專門計算AF的表，只需要輸入正常使用溫度和壓力溫度方可計算出AF值，根據上述描述可以算的AF=24.78）
AF= AF=e{ Ea/Kb*[1/Tn-1/Ta]}=24.78
MTBF=100*60*24*24.78/2.03≈170W 小時
以上為MTBF平均故障間隔時間的計算方法。詳細想了解更多可以來我司具體詢問！
